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光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)

簡要描述:QE-PL 光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)是如海光電自主研發(fā)的高性能測試設(shè)備,專注于材料及器件的光致發(fā)光量子效率與光譜響應(yīng)檢測。它適用于太陽能電池、光電探測器、光電材料等的性能測試,廣泛服務(wù)于高校、研究所的學(xué)術(shù)研究,以及企業(yè)的研發(fā)與生產(chǎn)品質(zhì)管理場景。

  • 產(chǎn)品品牌:其他品牌
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時間:2025-12-09
  • 訪  問  量:61

詳細介紹

品牌其他品牌應(yīng)用領(lǐng)域綜合

光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)

光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)

QE-PL 光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)是如海光電自主研發(fā)的高性能測試設(shè)備,專注于材料及器件的光致發(fā)光量子效率與光譜響應(yīng)檢測。它適用于太陽能電池、光電探測器、光電材料等的性能測試,廣泛服務(wù)于高校、研究所的學(xué)術(shù)研究,以及企業(yè)的研發(fā)與生產(chǎn)品質(zhì)管理場景。

核心特點

l     高穩(wěn)定性:搭載 300W 高穩(wěn)定性氙燈光源,穩(wěn)定性高于 99%,保障測量結(jié)果的高重復(fù)性與準確性。

l     高分辨率:采用非對稱水平光路與消慧差設(shè)計,確保譜線對稱,光學(xué)分辨率優(yōu)異。

l     低雜散光:通過消二次色散設(shè)計,有效抑制雜散光干擾,提升檢測精度。

l     長壽命設(shè)計:配備小模數(shù)精密研磨蝸輪蝸桿,運行平穩(wěn)噪聲低;狹縫刃口自動保護,寬度調(diào)節(jié)對稱性好,延長設(shè)備使用壽命。

l     精準可控:搭載步進電機細分驅(qū)動器,光譜準確度和重復(fù)性高,最小步距可達 0.005nm。

l     操作便捷:應(yīng)用軟件功能強大,支持圖線與數(shù)據(jù)處理;具備背電極樣品臺,可實現(xiàn)探針臺采集模式切換。

產(chǎn)品規(guī)格參數(shù)

項目

詳情

產(chǎn)品型號

QE-PL

寬光譜測量范圍

350nm-1700nm

光源

300W 高穩(wěn)定性氙燈光源

尺寸

規(guī)格一:800mm×700mm×310mm;規(guī)格二:800mm×450mm×415mm

焦距

150mm

雜散光

5×10??

最小步距

0.005nm

狹縫有效尺寸

刃口 10μm 自動保護,寬度 10μm-3mm 可調(diào),高度 5mm

光源光譜線寬

~0.5nm

光源波長設(shè)置精度

0.1nm

可測參數(shù)

光譜響應(yīng)度、外量子效率(EQE)

功率計

測量范圍 190nm-2000nm,功率量程 10μW-3W

典型光譜

(1)光源強度穩(wěn)定性測試

測試時間:7分鐘

光強波動范圍:3.697mW-3.777mW

平均值:3.739mW

標準差:10.41uW

光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)

(2)光源波長測試

光源測試測試范圍:350-1700

光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)

350nm-900nm

光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)

900nm-1700nm

(3)線寬測試

小狹縫時線寬測試范圍:400-800,間隔50nm

光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)

400nm-800nm線寬0.51nm-0.65nm

(4)量子效率穩(wěn)定性測試

光電二極管樣品測試三次量子轉(zhuǎn)換效率:

光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)

IPCE

光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)

功率

光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)

光致電流

應(yīng)用領(lǐng)域

l       IPCE 測試:精確測量材料或器件的光電轉(zhuǎn)換效率,為光電器件性能提升、材料合成優(yōu)化及器件制造工藝改進提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。適用于太陽能電池研究、光電探測器性能評估等領(lǐng)域。

光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)

量子效率測試IPCE圖

l      光電材料檢測:可對發(fā)光器件的光電特性進行全面測量,涵蓋光致發(fā)光光譜、電致發(fā)光光譜、外量子效率(EQE)、亮度、色度等參數(shù)。適配光電材料研究、LED 照明技術(shù)、顯示器技術(shù)、半導(dǎo)體器件優(yōu)化等場景。

光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)

電致發(fā)光光譜圖


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